WAVOS cover

WAVOS – Prüfung der Wellenfront und der Strahlablenkung

WAVOS vermisst und bewertet die Qualität optischer Komponenten aus Glas oder Kunststoff durch die Vermessung des transmittierten Lichtfeldes. Die hochpräzise Messung des Winkelfeldes und der Wellenfront in Kombination mit einer hohen Ortsauflösung und einem großen Scanbereich machen WAVOS zu einem vielseitigen Werkzeug der Charakterisierung optischer Komponenten.

Haben Sie Interesse an weiteren Informationen zum Thema automatisierte Inspektion von Winkelfeld und Wellenfront? Kontaktieren Sie unseren Experten Dr. Roland Goschke!
Es berät Sie: Dr. Roland Goschke (goschke@dioptic.de). | Tel.: +49 6201 650 40-292
↓ WAVOS cover
↓ WAVOS cap
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Messungen der Strahlablenkung zur Charakterisierung von Lidar-Schutzscheiben
Messungen der Strahlablenkung zur Charakterisierung von Lidar-Schutzscheiben: Formartefakte aus dem Spritzguss (links) und der Einfluss von Heizdrähten (rechts)

WAVOS cover

WAVOS cover wurde entwickelt, um den Einfluss von optischen Schutzscheiben (wie z.B. Lidar-Fenster) auf ein Lichtfeld zu charakterisieren. Die Winkeländerung des Lichtstrahls bei der Transmission durch optische Elemente wird räumlich aufgelöst vermessen und anschließend bewertet. Die Anwendungen reichen von der Optimierung und Prüfung von Komponenten während der LiDAR-Entwicklung über die Pass/Fail-Qualitätskontrolle in der Vorproduktion von einigen hundert Stück pro Monat bis hin zur vollständigen Inline-Pass/Fail-Kontrolle in der Massenproduktion mit über 1 Mio. Stück pro Jahr. WAVOS cover kann an verschiedene Anforderungen hinsichtlich der Beleuchtungswellenlänge, der Probengeometrie oder der automatischen Chargenprüfung angepasst werden.

In unserem Produktblatt finden Sie weitere Informationen zum WAVOS cover.


WAVOS cap

Die 360-Grad-Inspektion von zylindrischen Proben oder Kuppeln wird mit WAVOS cap durchgeführt. Die Kombination des WAVOS-Sensorkopfes mit einem präzisen Drehtisch ermöglicht die automatisierte Inspektion von nahezu beliebig geformten Schutzkappen!


WAVOS custom

Wir passen WAVOS-Systeme in Bezug auf Probengröße, Arbeitswellenlänge, Anzahl der Proben und Prüfspezifikation an Ihre Bedürfnisse an, um die Qualität Ihrer optischen Elemente auf die beste und präziseste Weise zu prüfen.
Der WAVOS-Sensor misst reflektierte und transmittierte Winkelfelder sowie Wellenfronten und kann damit eine Vielzahl an Komponenten für optische Anwendungen bewerten. Die integrierte Referenzierung und die automatische Berichterstellung vereinfachen den Prüfprozess und gewährleisten eine stabile Qualität.

Sind Sie an weiteren Informationen zum Thema automatisierte Inspektion von Winkelfeld und Wellenfront interessiert?

Es berät Sie: Dr. Roland Goschke (goschke@dioptic.de). | Tel.: +49 6201 650 40-292